Єдиний список товарів подвійного використання

Пошук в класифікаторі


	Єдиний список товарів подвійного використання
3	Розділ 3. Електроніка
3B	Обладнання для випробування, контролю та виробництва.
3B001	Обладнання для виробництва напівпровідникових приладів або матеріалів і спеціально
3B001.h	багатошарові фотошаблони (маски) з фазозсувним шаром, не визначені у 3B001.g, що мають будь-які з таких характеристик:


3B001.h.1	виконані на "заготовці підкладки" фотошаблону із скла, визначеного як таке, що має подвійне променезаломлення менше ніж 7 нм/см; або
3B001.h.2	призначені для використання у літографічному обладнанні, що має джерело світла з довжиною хвилі менше ніж 245 нм; Примітка. Згідно з позицією 3B001.h контролю не підлягають багатошарові фотошаблони (маски) з фазозсувним шаром, призначені для виробництва запам'ятовувальних пристроїв, не визначених у позиції 3А001.

3B001.h.1

виконані на "заготовці підкладки" фотошаблону із скла, визначеного як таке, що має подвійне променезаломлення менше ніж 7 нм/см; або

3B001.h.2

призначені для використання у літографічному обладнанні, що має джерело світла з довжиною хвилі менше ніж 245 нм;

Примітка. Згідно з позицією 3B001.h контролю не підлягають багатошарові фотошаблони (маски) з фазозсувним шаром, призначені для виробництва запам'ятовувальних пристроїв, не визначених у позиції 3А001.

Ви є тут

Єдиний список товарів подвійного використання

Головне меню

Навігатор ЗЕД

Інформаційна підтримка